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6 冰冻扫描电子显微镜(JEOL 6610LV) 生物技术楼102室 张立 62756319

仪器名称 冰冻扫描电子显微镜

仪器型号 JSM 6610 LV

生产厂家 JEOL(日本电子)

启用日期 2011年1月

用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。成像信号可以是二次电子。成像信号是二次电子、背散射电子或吸收电子。由电子枪发射的能量为 5 ~ 35keV 的电子,以其交叉斑作为电子源,经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度 和束斑直径的微细电子束,在扫描线圈驱动下,于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用,产生二次电子发射,二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集 转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管栅极,调制与入射电子束同步扫描的 显像管亮度,得到反映试样表面形貌的二次电子像。


冰冻扫描电镜最常用于生命科学,包括植物学、动物学、真菌学、生物技术、生物医学和农业科学。用于观察物体表面的超微结构和形态


分辨率 (Resolution)

二次电子探测器:3.0nm(30kV),8.0nm(3kV),15nm(1kV),

背散射电子探测器:4.0nm(30kV)。

全自动电子枪 (Fully Automated Electron Gun):加速电压的提升、灯丝的加热及图像的自动出现全部自动完成。无缝自主栅偏压和消像散的自动记忆功能均自动实现。

大视野观察范围(Large Field of View):最低的放大倍数可达5倍,可观测到24 mm见方的样品。

高精度的变焦聚光镜系统 (Precision Zoom Condenser lens):探测电流发生变化时,图像的聚焦状态可保持不变。且不需经常清洗。

超级圆锥形物镜 (Super Conical Objective Lens):允许样品在较小的工作距离下得到较大的倾斜角。

高灵敏度半导体背散射探头 (High sensitivity semiconductor detector):此探头是日本电子的专利产品,提供三种图像:成分像、形貌像和立体像

全对中的样品台 (Eucentric Stage):这种样品台保证样品旋转或倾斜时,被观察点聚焦状态不变。

大样品室 (Large specimen chamber):JSM-6610LV可对直径为(200 mm)的样品进行直接观察。


可将物体放大10万倍,用于快速观察植物或其他样本的表面形态和结构